杭州精源电子仪器有限公司JY-3晶体管测试仪技术说明书1.系统简介本测试仪具有对半导体器件常温测试，高温热测(不需要外加烘箱)，热敏参数的快速筛选取代直流满功率老炼三大功能，并可任意选用及组合使用。晶体管热敏参数的快速筛选技术，是采用在短时间内(一般为数秒)对晶体管施加超稳态额定功率的办法，使晶体管的结温迅速接近或达到最高允许结温TjM，通过快速检测晶体管热敏参数V、I(或I)和h,及其在加功率前后的变化量、变化...
1956年诺贝尔物理学奖——晶体管的制造1956年诺贝尔物理学奖授予美国加利福尼亚州景山〔MountainView〕贝克曼仪器公司半导体试验室的肖克利〔WilliamShockley，1910—1989〕、美国伊利诺斯州乌尔班那伊利诺斯大学的巴丁〔JohnBardeen，1908—1991〕和美国纽约州缪勒海尔〔MurrayHill〕贝尔试验室的布拉坦〔WalterBrattain，1902—1987〕，以表彰他们对半导体的争论和晶体管效应的觉察。晶体管的制造是20世纪中叶科学技术领域有...
